| 材質 | 咨詢客服 |
|---|---|
| 測量范圍 | 咨詢客服 |
| 產地 | 上海 |
| 電源電壓 | 咨詢客服 |
| 類型 | 咨詢客服 |
| 售后服務 | 一年保修 |
| 溫度范圍 | 咨詢客服 |
| 重量 | 咨詢客服 |
| 滅菌方式 | 咨詢客服 |
| 經營模式 | 自產自銷 |
| 品牌 | 達標儀器 |
| 型號 | DB-567 |
| 加工定制 | 是 |
PCT老化箱（又名PCT高壓加速老化試驗機）主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。
廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
PCT老化箱內膽采用圓弧設計,復合安全容器標準,可以防止試驗結露滴水現(xiàn)象，從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。配備雙層不銹鋼產品架,也可根據(jù)客戶產品規(guī)格尺寸免費量身定制專用產品架。
